粗糙度应在图纸定义的位置进行测量,这些位置应代表表面功能和实际的喷砂暴露情况。在曲面或翅片铸件上,这通常意味着可接近的平面、圆柱壁、翅片侧面或根部以及边缘过渡区域需要分别设置位置。最平坦的平面不应代表受到不同冲击能量的几何形状。
所选仪器必须适应测量位置,并将粗糙度与零件形状分离。如果接触式触针无法正确就位或移动,则买方可能需要合格的光学、复制或比对试样方法,而不是临时读数。
触针沿圆柱或小半径移动时,记录的是表面纹理和几何形状。滤波可以去除部分形状,但仪器设置和半径会影响结果。读数之间倾斜的夹具会增加另一个变化来源。定义轨迹是轴向还是周向、角度位置、半径范围以及去除形状的方法。
曲率应保持在仪器和程序能力范围内。如果触针滑板或主体接触零件,或尖端失去正常接触,则结果无效,仅仅因为仪器显示了数字。
几何形状 | 测量关注点 | 规划响应 |
|---|---|---|
大半径圆柱 | 形状进入轨迹 | 固定轴向/周向方向和滤波 |
小半径凸台 | 触针就位和移动受限 | 使用合格的光学/复制方法或指定无边区域 |
翅片侧面 | 振动和支撑狭窄 | 支撑零件,定义侧面和仪器通道 |
翅片根部 | 触针无法到达或对准 | 光学/复制研究加上视觉覆盖控制 |
孔边 | 尖端落入过渡区 | 设置排除距离并单独检查边缘 |
根据批准的夹具和喷嘴路径,绘制直接冲击、斜冲击和阴影区域。翅片顶部和暴露的边缘可能接收最大能量;根部深处可能接收最小覆盖。在首件检验期间,从每个功能重要的暴露类别中至少测量一个稳定位置。中央宽面只能在相关性建立后作为常规趋势点。
此外,区分铸造表皮、修剪表面和机加工区域。它们的起始形貌和硬度在相同的喷砂工艺下会产生不同的读数。如果机加工表面有意遮蔽,则应记录为受保护的功能表面,而不是失败的低粗糙度位置。
光学仪器可以在无需触针接触的情况下进行测量,并可能测量有限曲率上的纹理,但必须控制聚焦、反射率、拼接、滤波以及面积与轮廓参数。复制品可以将难以测量的表面转移到可接近的测量位置,但复制材料、固化、移除和重建会增加不确定性。试样仅在与其实际零件位置的相关性建立后才有效。
方法 | 优势 | 资格限制 |
|---|---|---|
接触式触针 | 在可接近路径上已建立的轮廓参数 | 通道、方向和曲率 |
光学测量 | 非接触和面积数据 | 反射率、聚焦、滤波和参数相关性 |
表面复制 | 转移不可接近的特征 | 复制保真度和移除技术 |
试样 | 易于常规监测 | 可能无法再现铸造表皮或遮蔽几何形状 |
视觉样件 | 覆盖整个区域的视觉外观 | 不量化功能粗糙度 |
使用带有基准参考、角度位置、距边缘距离、轨迹方向和位置大小的图纸细节或受控坐标图。带手绘圆的照片可以支持培训,但作为唯一的生产定义是薄弱的。在检验计划中标识仪器程序和夹具方向。
在能力研究期间进行足够次数的测量,以了解操作员和放置变化。如果重新定位误差接近验收宽度,则在使用该值拒绝生产之前改进夹具或方法。喷砂工艺不应为了追逐测量噪声而调整。
从功能开始。如果不可接近的翅片根部只需要视觉均匀性,则样件和覆盖检查可能比强制粗糙度要求更合适。如果它是涂装准备表面,则使用切片或附着力证据在该几何形状上验证完整的清洁、预处理和涂层性能。如果它是密封或轴承界面,则可能需要重新设计、遮蔽或机加工,而不是不可验证的喷砂光洁度。
相关试样应放置和定向以体验相关的喷砂条件,然后定期对破坏性测量或光学检查的零件进行确认。后处理计划应说明相关性以及试样超出其限制时的反应。
检验报告应标识任何无法按计划测量的位置。用另一个点替换它需要工程批准和更新后的映射;否则每个批次都可能迁移到最易测量的表面,直到数据不再代表关键几何形状。
有效的粗糙度数据来自代表性的几何形状、受控的通道和可重复的方法。曲面和翅片铸件通常需要测量映射,而不是对整个组件使用一个方便的读数。