喷砂后清洁证据应表明,松散磨料、破裂介质和粉尘已从散热片、盲孔、螺纹、凹槽和纹理表面去除,且未引入油或水分。买方应使用合格的清洁方法加上特定特征的检查,而不是仅依靠快速吹气和外观目视检查。
所需的证据取决于下游用途。裸露的装饰件、粘接件、粉末喷涂壳体以及流体输送部件具有不同的残留风险。清洁还必须在批准的清洁至下一工序时间内完成。
几何形状 | 残留机理 | 检查方向 |
|---|---|---|
盲螺纹孔 | 颗粒楔入根部或底部 | 内窥镜、受控冲洗或抽吸 |
密排散热片 | 粉尘在粗糙壁之间架桥 | 照明、空气/真空验证及可及处的擦拭 |
深凹槽 | 重力和视线限制去除效果 | 方向和型腔检查 |
粗糙铸态纹理 | 细破碎介质残留在波谷中 | 合格的擦拭或冲洗对比 |
遮蔽过渡区 | 磨料积聚在塞子或胶带边缘 | 去除遮蔽后检查 |
压缩空气必须足够清洁和干燥,以满足下游工序要求。喷嘴顺序和零件方向应喷射出介质,而不是将其移动到另一个型腔中。真空可以捕获干燥颗粒而不会重新分布,但可达性和过滤器控制很重要。清洗可能去除细粉尘,但增加了冲洗和干燥的要求。
在最恶劣的几何形状和最大正常喷砂载荷下鉴定所选组合。 喷砂工艺应规定清洁无法完成时的顺序、设备和异常响应。
根据风险,使用目视和内窥镜检查、受控白布擦拭、重量分析法、冲洗过滤或其他批准的技术。擦拭仅测试可到达表面。提取可量化可去除残留物,但可能无法识别嵌入基体中的颗粒。设定限制应基于下游性能和鉴定结果,而非任意统一的数值。
对于涂层,处理代表性零件通过预处理和最终饰面,然后检查附着力和夹杂物。对于螺纹或流体通道,可能需要进行功能和清洁度测试。不要将成功的外观涂层作为证明隐藏型腔无磨料的证据。
残留物限值应来自下游风险和鉴定。装饰壳体在规定的检查下可接受无可视松散颗粒。流体、电气或粘接部件可能需要定量提取或清洁度方法。在适用处规定样品区域、提取液或过滤器、仪器、颗粒分类和接收标准。
首件和工艺鉴定应测试最差型腔和正常介质老化条件。常规生产抽样可针对趋势特征,辅以定期扩展检查。介质更换、设备维护、清洁设备维修或新深几何形状后应增加抽样频率。
当残留物超标时,隔离自上次接受检查以来的物料,确定是喷砂还是清洁引起的变化,并仅经批准途径进行再清洁。重复清洁可能增加水分、化学品暴露或操作损伤,因此最终零件仍需要检查。
趋势分析结果,而非仅记录通过/失败。逐渐上升的提取重量可在正式拒收前揭示喷嘴、过滤器或介质破碎问题。
在零件冷却去除遮蔽后验证清洁,因为残留颗粒可能随后掉落。在批准检查方法下旋转或轻握零件以挑战松散残留。方法不得损坏纹理或将颗粒推入功能开口。记录任何重复清洁并再次执行相同的最终验证。
包装试验应确认运输振动不会将隐藏颗粒释放到密封型腔或装饰面上。
清洁零件应在防护架上移动,使用手套或触点,不得添加指纹、纤维或灰尘。规定最大保持时间和环境保护。包装材料不应脱落碎屑到粗糙表面。
对于一个假想的复杂壳体,鉴定包括受控冲洗后的过滤器残留、盲孔检查和散热片间隙检查。在正常介质老化后重复该工艺,以确保清洁有效性。这是一个方法示例,并非 Neway 声称的结果。
如果喷砂后跟随粉末喷涂,经批准的化学准备和清洁至涂层控制仍然适用。
清洁记录 | 所需细节 |
|---|---|
零件/批次标识 | 将残留证据与喷砂批次关联 |
介质标识 | 支持污染和颗粒分析 |
清洁顺序 | 空气、真空、清洗、方向和时间 |
最差特征 | 检查的盲孔、凹槽或散热片间隙 |
验证结果 | 原始擦拭、提取、过滤或目视证据 |
转移条件 | 处理、储存和下一工序时间 |
当生产几何形状改变时,即使喷砂配方不变,也必须审查清洁鉴定。新增加的盲凸台、更窄的散热片间隙或更深的螺纹孔可能成为真正的最差滞留特征,并使基于早期版本制定的检查计划失效。
喷砂后清洁完成的前提是已针对实际几何形状和下游工艺鉴定残留风险。外观清洁的平面不能使仍带有隐藏功能特征的磨料的壳体得到放行。